Caractérisation de la texture d'un revêtement de chaussée à partir de relevés de profils de la surface — Partie 4: Analyse spectrale par bande d'un tiers d'octave des profils de la surface
Onglets principaux
Le présent document décrit les méthodes disponibles pour effectuer une analyse spectrale d’un profil de surface de chaussée. Il définit une méthode permettant d’analyser la fréquence spatiale (ou la longueur d’onde de texture) de profils de surface bidimensionnels qui décrivent l’amplitude de texture d’un revêtement de chaussée en fonction de la distance le long d’une trajectoire rectiligne ou courbe sur la chaussée. Il décrit également une autre méthode (pas privilégiée) pour obtenir ces spectres:
a)
largeur relative de bande constante obtenue par filtrage numérique (méthode normative);
b)
analyse fréquentielle par bande fine au moyen d’une transformée de Fourier discrète (TFD), suivie d’une transformation du spectre en bandes fines en spectre par bande d’octave ou de tiers d’octave (méthode informative).
Le résultat de l’analyse fréquentielle sera un spectre de fréquence spatiale (ou de longueur d’onde de texture) dans des bandes d’octave ou de tiers d’octave à pourcentage constant.
Le présent document a pour objectif de normaliser la caractérisation spectrale des profils de surface de chaussée. Pour atteindre cet objectif, une description détaillée des méthodes d’analyse et des exigences associées sont fournies aux personnes qui participent à la caractérisation des revêtements de chaussée mais qui ne connaissent pas les principes généraux de l’analyse fréquentielle des signaux aléatoires. Ces méthodes et exigences s’appliquent généralement à tous les types de signaux aléatoires; elles sont toutefois examinées en détail dans le présent document en vue de leur utilisation dans le cadre de l’analyse du profil de surface de revêtements de chaussée.
NOTE L’analyse spectrale telle que spécifiée dans le présent document ne peut exprimer l’ensemble des caractéristiques du profil de surface étudié. En particulier, les effets de l’asymétrie du profil, par exemple la différence de certaines propriétés fonctionnelles pour les profils «positifs» et «négatifs», ne peuvent être exprimés par la densité spectrale de puissance étant donné qu’elle fait abstraction de toute asymétrie du signal (voir l’Annexe B).
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